<big id="xlb1r"><rp id="xlb1r"></rp></big>
    <thead id="xlb1r"></thead>
<address id="xlb1r"></address>
<nobr id="xlb1r"><big id="xlb1r"><listing id="xlb1r"></listing></big></nobr>

        
        
            <ins id="xlb1r"><listing id="xlb1r"></listing></ins>

              <address id="xlb1r"><i id="xlb1r"></i></address>

              <p id="xlb1r"></p>

              <span id="xlb1r"></span>

                <p id="xlb1r"></p>
                <menuitem id="xlb1r"><delect id="xlb1r"><pre id="xlb1r"></pre></delect></menuitem>

                      <menuitem id="xlb1r"><delect id="xlb1r"><i id="xlb1r"></i></delect></menuitem>

                      <menuitem id="xlb1r"><delect id="xlb1r"><i id="xlb1r"></i></delect></menuitem>

                          <dfn id="xlb1r"></dfn>
                          <menuitem id="xlb1r"></menuitem>

                          你的位置:首頁 > 技術文章 > 聚焦離子束顯微鏡的基本功能有哪些?

                          技術文章

                          聚焦離子束顯微鏡的基本功能有哪些?

                          技術文章
                            聚焦離子束顯微鏡是一種先進的材料表征和納米加工工具,具有多種基本功能。以下是聚焦離子束顯微鏡的基本功能
                           
                            1、樣品制備:FIB系統可以對樣品進行切割、刻蝕、沉積等處理,以便于觀察其內部的結構和成分分布。此外,FIB還可以制備用于透射電鏡觀察的樣品。
                           
                            2、高分辨率成像:FIB系統可以提供高分辨率的成像能力,能夠觀察到材料的微觀結構、晶體形態和成分分布等信息。通過調整離子束的能量和掃描速度,可以實現對不同深度的材料成像。
                           
                            3、定點切割:FIB系統可以進行精確的定點切割,可以在原子級別上控制切割的位置和深度。這對于半導體制造、材料研究和生物醫學等領域具有重要意義。
                           
                            4、納米加工:FIB系統可以進行納米尺度的加工,包括切割、刻蝕、沉積等。通過控制離子束的能量和掃描路徑,可以實現對材料的高精度加工。
                           

                          聚焦離子束顯微鏡

                           

                            5、元素分析:FIB系統可以對材料進行元素分析,可以通過二次離子質譜儀等技術實現。這可以幫助確定材料的成分和化學狀態。
                           
                            6、三維重建:FIB系統可以對樣品進行三維重建,通過掃描整個樣品表面并建立相應的數字模型。這可以幫助更好地理解材料的結構和形貌。
                           
                            7、失效分析與失效機理研究:FIB系統可以用于芯片局部剖面制樣與觀測,成為VLSI失效分析與失效機理研究中的一個重要工具。它可以用于觀察失效區域的微觀結構和成分分布,從而幫助確定失效的原因和機理。
                           
                            總的來說,聚焦離子束顯微鏡具有多種基本功能,包括樣品制備、高分辨率成像、定點切割、納米加工、元素分析、三維重建以及失效分析與失效機理研究等。這些功能使得FIB成為了材料科學、半導體制造和生物醫學等多個領域中重要的工具。

                          聯系我們

                          地址:北京市朝陽區惠河南街南岸一號義安門39-110 傳真: Email:sale@opton.com.cn
                          24小時在線客服,為您服務!

                          版權所有 © 2024 北京歐波同光學技術有限公司 備案號:京ICP備17017767號-4 技術支持:化工儀器網 管理登陸 GoogleSitemap

                          在線咨詢
                          QQ客服
                          QQ:442575252
                          電話咨詢
                          13126536208
                          關注微信
                          久久精品国产清自在天天线_国产综合区久久久久_亚洲VA中文字幕无码久久一区_国产高清人妻互换av片
                          <big id="xlb1r"><rp id="xlb1r"></rp></big>
                            <thead id="xlb1r"></thead>
                          <address id="xlb1r"></address>
                          <nobr id="xlb1r"><big id="xlb1r"><listing id="xlb1r"></listing></big></nobr>

                                
                                
                                    <ins id="xlb1r"><listing id="xlb1r"></listing></ins>

                                      <address id="xlb1r"><i id="xlb1r"></i></address>

                                      <p id="xlb1r"></p>

                                      <span id="xlb1r"></span>

                                        <p id="xlb1r"></p>
                                        <menuitem id="xlb1r"><delect id="xlb1r"><pre id="xlb1r"></pre></delect></menuitem>

                                              <menuitem id="xlb1r"><delect id="xlb1r"><i id="xlb1r"></i></delect></menuitem>

                                              <menuitem id="xlb1r"><delect id="xlb1r"><i id="xlb1r"></i></delect></menuitem>

                                                  <dfn id="xlb1r"></dfn>
                                                  <menuitem id="xlb1r"></menuitem>